表一:零值絕緣子測試(66kV及以上)
( 試驗設備:ZC-JD10絕緣零值測試儀 )
周期 |
要求 |
說明 |
1~5年 |
在運行電壓下檢測 |
1)可根據(jù)絕緣子的劣化率調(diào)整檢測周期 |
表二:絕緣電阻
( 試驗設備:ZC2010系列指針式絕緣電阻測試儀)
周期 |
要求 |
說明 |
1)懸式絕緣子1~5年 |
1)針式支柱絕緣子的每 |
1)采用2500V及以上兆歐表 |
表三:交流耐壓試驗
( 試驗設備:ZCYD系列工頻耐壓試驗裝置 )
周期 |
要求 |
說明 |
1) 單元件支柱絕緣子1~5年 |
1)支柱絕緣子的交流耐壓試驗電壓值見規(guī)程規(guī)定 |
1)35kV針式支柱絕緣子可根據(jù)具體情況按左欄要求1)或2)進行 |
表四:絕緣子表面污穢物的等值鹽密
( 試驗設備:ZC-JD55智能電導鹽密測試儀 )
周期 |
要求 |
說明 |
1年 |
參照規(guī)程規(guī)定污穢等級與對應附鹽密度 |
應分別為戶外代表當?shù)匚廴境潭鹊闹辽僖淮畱掖菇^緣子和一根棒式支柱取樣,測量在當?shù)胤e污的時期進行 |